超声波容器探伤仪斜探头校准
为了方便操作者校准斜探头角度、前沿、零点及材料声速，仪器提供了斜探头校准功能，利用此功能可方便的完成斜探头的校准工作。斜探头校准功能位于自校准功能菜单中。斜探头的自动校准，本仪器提供了两种方法，第一种是基于CSK-1A试块的校准。第二种是基于CSK-IIIA试块的校准，实际上第二种方法应该叫两孔法校准，不一定要用CSK-IIIA试块，只要有两个直径相同，深度不同的孔，都可以校准。
1. 基于CSK-1A试块的校准（一键自动校准法（回车键））
以标配的斜探头为例，它是一个频率5MHz，晶片为8mm×9mm，角度为K2的单晶探头。可以利用CSK-IA试块对其进行校准。校准前无需输入任何参数。
1). 在校准类型选项中选择CSK-IA。
2）在斜探头校准选择下按下回车键，探伤仪将自动调节闸门为双闸门，自动放置闸门位置，自动设置探测范围。将探头放在圆心上，来回移动，找到R100的最高波，同时保证R50的波高于15%，按下回车键，材料声速校准完毕，再按下回车键，探头零点校准完毕。
3）再按下回车键，显示探头前沿的估计值，此值需要读出探头到圆心刻度（或用刻度尺测量后），使用拨轮输入。
4）再按下回车键，显示K值回波提示，将探头放置在试块另一端，来回移动，找到最高波，然后按下回车键，K值校准完毕。
整个校准过程无需手动调节探测范围和闸门，只需找到最高波，按回车键确认即可。在校准确认之前，按<冻结>键可以取消校准过程。